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測厚儀標準片校正片?

應用于測厚儀校正及程序更新

XRF-2000測厚儀標準片：金,鎳，銅，鋅,鉻，銀,鋅鎳合金：各鍍種標片及范圍通用于所有品牌測厚儀

標準片均附帶證書

適合各種X射線鍍層測厚儀

X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法

是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關(guān)系，來得到標準曲線。以此標準曲線來測量鍍層樣品

以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。 

測厚儀標準片校正片

應用于Micro Pioneer XRF-2000測厚儀校正及程序更新

XRF-2000測厚儀標準片：金,鎳，銅，鋅,鉻，銀,鋅鎳合金：各鍍種標片及范圍通用于所有品牌測厚儀

標準片均附帶標準證書

XRF-2020電鍍層測厚儀

品牌：Micro Pioneer

原產(chǎn)地：韓國

型號：XRF-2020系列

韓國XRF-2020應用領域：

檢測電子電鍍,五金電鍍,PCB板，LED支架等電鍍層厚度。
測量鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等
測量的鍍層范圍:0.03微米～35微米。
可測單層、雙層、多層、合金鍍層測量，不限底料。

韓國XRF-2020電鍍層測厚儀?精度：

表層：±5%

第二層：±8%

第三層：±15%

測量鍍種為：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等

可測單層、雙層、多層、合金鍍層測量，不限底料。